D/MAX-RAPID II позволяет одновременно получать двумерную дифракционную картину широких и малых углов рентгеновского рассеяния. Быстро и легко производит измерения микрообластей массивных образцов, измерения обычных порошков, пленок, мелких кристаллов и т.д., образцов разных видов, а также образцов малого количества.
С прибором SmartLab даже при отсутствии профессиональных знаний стало возможным проведение традиционно сложных измерений тонких пленок, таких как измерение толщины пленки, определение ориентации, измерение распределения по размерам гранул и пор и т.д.
Прибор рентгеноструктурного анализа NANO-Viewer (измерительный прибор малоуглового рентгеновского рассеяния) осуществляет характеризацию этих передовых материалов, начиная с молекулярного уровня (1 нм ~ 100 нм макроструктуры) и кончая атомным уровнем (0.2 нм ~ 1 нм микроструктуры).
SCXmini создан на основе совместного применения таких новшеств, как прибор с зарядовой связью CCD, высокоточный гониометр компактного размера и компактный источник электроснабжения для генератора рентгеновского излучения, упакованный в корпус.
Ultima IV может быть использован в качестве исходной модели, предназначенной для измерения порошкообразных образцов. А также методом расширения функций может быть достроен до системы высочайшего уровня для измерения тонкопленочных образцов.
MiniFlex II — компактный и портативный рентгеновский дифрактометр, обладающий исключительным соотношением «цена/эффективность», открывает новые перспективы использования рентгеноструктурного метода анализа на предприятиях, в университетах или в научных центрах, где ранее этот метод казался недоступным.
Стр. 1 - 6 из 6
Начало | Пред. | 1 | След. | Конец